| 专利名称: | 一种实现高精度磁场输出的同轴测量工装、超导磁体结构及其装调方法 |
| 专利类别: | 发明 |
| 申请号: | |
| 申请日期: | 2022/5/7 |
| 专利号: | 202210492835.8 |
| 第一发明人: | 刘辉,王晖，徐策，陈顺中，戴银明，王秋良 |
| 其它发明人: | |
| 国外申请日期: | |
| 国外申请方式: | |
| 专利授权日期: | |
| 缴费情况: | |
| 实施情况: | |
| 专利证书号: | |
| 专利摘要: | |
| 其它备注: | |
一种实现高精度磁场输出的同轴测量工装、超导磁体结构及其装调方法
| 专利名称: | 一种实现高精度磁场输出的同轴测量工装、超导磁体结构及其装调方法 |
| 专利类别: | 发明 |
| 申请号: | |
| 申请日期: | 2022/5/7 |
| 专利号: | 202210492835.8 |
| 第一发明人: | 刘辉,王晖，徐策，陈顺中，戴银明，王秋良 |
| 其它发明人: | |
| 国外申请日期: | |
| 国外申请方式: | |
| 专利授权日期: | |
| 缴费情况: | |
| 实施情况: | |
| 专利证书号: | |
| 专利摘要: | |
| 其它备注: | |